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Sistema di cristallografia a raggi X JF-2

sistema di cristallografia a raggi X
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Caratteristiche

Specificazioni
a raggi X

Descrizione

Scopo: Lo strumento di analisi dei cristalli a raggi X è utilizzato principalmente per ricerca della microstruttura interna della sostanza, come, ad esempio, la singola cr direzione ystal, esaminare le deturpazioni, direzione della sostanza, misurare il parametro reticolo, misurare lo stress, ecc.

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* I prezzi non includono tasse, spese di consegna, dazi doganali, né eventuali costi d'installazione o di attivazione. I prezzi vengono proposti a titolo indicativo e possono subire modifiche in base al Paese, al prezzo stesso delle materie prime e al tasso di cambio.