Macchina di misura di planarità GI20

per controllodi alta precisione

Lo strumento di misura della planarità GI20 di Logitech fornisce misure di planarità ad alta precisione, adatte all'uso con superfici lappate e semilucidate fino a 150 mm (6″)Ø. A differenza degli interferometri fizeau convenzionali, il GI20 può essere utilizzato per misurare superfici non riflettenti, il che lo rende ideale per effettuare controlli su superfici lappate e/o rettificate prima della lucidatura finale. L'interferogramma viene visualizzato su uno schermo posto sul lato anteriore dell'unità. È possibile creare una visualizzazione parallela tramite la porta HDMI e le immagini possono anche essere esportate tramite la porta USB per analisi esterne. Tutte le funzioni dell'interferometro sono controllate dal pannello touch screen. Interferometria a incidenza radente Un interferometro fizeau standard, a seconda della lunghezza d'onda utilizzata, opera normalmente con una spaziatura delle frange di circa 0,3 µm. Ciò spesso limita le misure di planarità ai materiali altamente riflettenti che forniscono un contrasto sufficiente sul monitor. Le brevi distanze tra le frange che ne derivano spesso impediscono l'analisi di immagini "movimentate". Gli interferometri a incidenza radente Logitech superano questi problemi grazie alla riflessione della luce laser con un angolo di incidenza radente sulla superficie del campione. Questo fascio di luce angolato garantisce che il monitor mostri le frange sia sulle superfici riflettenti che su quelle non riflettenti del campione. Inoltre, consentono un'ampia apertura visibile di 127 mm x 150 mm (5″ x 6″), permettendo di valutare con precisione campioni fino a 150 mm (6″) di diametro. Lo schermo da 7″ consente di effettuare misure rapide e accurate "in process" con una spaziatura delle frange visualizzata a un intervallo fisso di 2µm, producendo livelli di contrasto eccellenti con finiture superficiali di campioni lucidati fino a 300nm Ra.