di precisione, per microscopio, con vite a sfere, 2D
Corsa
Max.: 100 mm (3,937 in)
Min.: 45 mm (1,772 in)
Descrizione
Prodotto Stadio di scansione di precisione SCAN IM 100 x 45 per microscopi invertiti, progettato per applicazioni sui materiali e compatibile con la serie Leica DMI
Informazioni aggiuntive
piano di scansione per microscopi invertiti
per applicazioni sui materiali
corsa: 100 x 45 mm
passo vite a ricircolo di sfere: 2 mm
apertura del piano: 160 x 130 mm
design piatto ed ergonomico
per Leica DMI 3000-6000 / DMi8
senza inserto per piano
Schede tecniche
31-24-433-0000_SCAN_IM_100_45_EN.pdf
31-24-433-0000_SCAN_IM_100_45_DE.pdf
Caratteristiche / Specifiche tecniche
Numero parte: 31-24-433-0000
Tipo: piano di scansione per microscopi invertiti
Applicazione: applicazioni sui materiali
Corsa: 100 x 45 mm
Passo vite a ricircolo di sfere: 2 mm
Apertura del piano: 160 x 130 mm
Design: piatto ed ergonomico
Compatibile con: Leica DMI 3000-6000 / DMi8
Inserto per piano: senza inserto
Cataloghi
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