Profilometro con interferometria a luce bianca MarSurf3D MS SX

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Panoramica
La MarSurf3D MS SX Platform è un sistema di metrologia superficiale 3D basato su area e multisensore che integra confocale, interferometria a luce bianca e variazione di fuoco in un'unica testa di misura. La piattaforma SX è ottimizzata per pezzi di piccole dimensioni con corse/assi fino a 200 mm e consente analisi di superficie fino alla gamma dei nanometri inferiori.

Tecnologie combinate chiave
Confocale: La tecnologia confocale multi-pinhole brevettata permette acquisizioni immagine ultra-veloci con alta qualità del segnale e ottima ripetibilità su superfici da lisce a ruvide.

Interferometria: L'interferometria a luce bianca fornisce risoluzione verticale sub-nanometrica indipendentemente dall'ingrandimento — ideale per superfici molto lisce e misure ultra-precise delle altezze di gradino.

Variazione di fuoco: La tecnica di variazione di fuoco è progettata per la misura della geometria di superfici ampie e ruvide. Registra pendenze ripide (fino a ~86°) e offre un'ampia escursione verticale in una singola scansione.

Attività di misura tipiche

• Misure di rugosità (ISO 21920 / ISO 4287 & ISO 13565 / ISO 25178)
• Misure di topografia e analisi di volume (usura, tribologia)
• Misura di contorno e forma (2D & 3D)
• Analisi di pori e particelle
• Rilevamento difetti
• Altezze di gradino e caratteristiche superfici ultra-fini fino alla gamma dei nanometri inferiori

Massima qualità dei dati
Il sistema è progettato per fornire elevata precisione, accuratezza, ripetibilità e riproducibilità con documentazione completa per garantire tracciabilità e auditabilità. Fornisce valori di misura quantitativi adatti all'ingegneria, progettazione prodotto e processo e controllo qualità.

Punti di valore prodotto

• Misura corretta e riproducibile: registrazione affidabile dei dati di misura che garantisce elevata precisione dei dati grezzi e dei profili.
• Ampia gamma di pezzi: misurazione indipendente dal materiale per superfici riflettenti, assorbenti, opache o trasparenti.
• Funzionamento intuitivo: interfaccia guidata con modalità automatiche e protocolli di misura per flussi di lavoro ripetibili.

Rif. / Identificazione
Numero articolo: 6350029

Specifiche tecniche

• Denominazione / famiglia prodotto: MarSurf3D MS SX Platform
• Marca: Mahr
• Numero articolo: 6350029
• Dimensione pezzo prevista: corse/assi fino a 200 mm
• Tecnologie di misura integrate: Confocale (multi-pinhole), Interferometria a luce bianca, Variazione di fuoco
• Risoluzione verticale: gamma sub-nanometrica (livello interferometria)
• Superfici applicabili: da molto lisce (scala nm) a molto ruvide; registra pendenze ripide fino a ~86° (variazione di fuoco)
• Attività tipiche: rugosità (ISO 21920 / ISO 4287, ISO 13565 / ISO 25178), topografia, contorno/forma 2D & 3D, analisi pori/particelle, rilevamento difetti, misura di altezze di gradino
• Interfaccia utente: modalità automatiche guidate e supporto di protocolli di misura per operazioni ripetibili
• Caso d'uso: metrologia superficiale 3D basata su area per pezzi piccoli e medi, ispezione di laboratorio e produzione ad alta precisione