Apparecchio di misura di spessore NanoTR

della conduttività termicadella perdita di riflettanzaelettronico

Il metodo per la determinazione délia diffusivité termica nell'intervallo di spessore dei nanometro Con i notevoli progressi nella progettazione dei dispositivi elettronici e la conseguente nécessité di una gestione termica efficiente, le misure accurate di diffusivité termica/conduttivité termica nell'intervallo dei nanometri sono più che mai cruciali. L'Istituto Nazionale di Scienze e Tecnologie Industriali Avanzate (AIST), in Giappone, ha già risposto alle esigenze dell'industria con lo sviluppo di un "metodo di termoreflettanza con riscaldamento a luce pulsata" all'inizio degli anni '90. PicoTherm Corporation è stata fondata nel 2008 con il lancio di un apparecchio di termoreflettanza a nano-secondi "NanoTR" e un'apparecchiatura di termoreflettanza al pico-secondo "PicoTR", che consente di misurare in modo assoluto la diffusività termica di film sottili in un intervallo di spessore di diversi 10 μm fino all'intervallo dei nanometri. Nell'ottobre 2020, PicoTherm è entrata a far parte del Gruppo NETZSCH come consociata di NETZSCH Japan. In combinazione con i nostri sistemi LFA, NETZSCH è ora in grado di offrire la soluzione per film sottili nell'intervallo dei nanometri fino a materiali sfusi nell'intervallo dei mm. Con i notevoli progressi nella progettazione dei dispositivi elettronici e la conseguente necessità di una gestione termica efficiente, le misure accurate di diffusività termica/conduttività termica nell'intervallo nanometrico sono più che mai cruciali. L'Istituto Nazionale di Scienze e Tecnologie Industriali Avanzate (AIST), in Giappone,