Apparecchio di misura di tensione N23020 series

di correntedi potenzaelettronico

Alimentatore CC programmabile ad alta precisione a 16 canali della serie N23020 La serie N23020 è una sorgente dc multicanale ad altissima precisione sviluppata per l'industria dei semiconduttori, in grado di fornire un'alimentazione ultraprecisa, stabile e pura per i chip, con camera di prova ambientale per una serie di test di affidabilità ambientale. Accuratezza della tensione del prodotto fino a 01,mv, supporto della misurazione della corrente a livello di nA, singola unità fino a 16 canali, supporto del controllo locale/remoto (LAN/RS485/CAN) per soddisfare le esigenze dei lotti di chip e dei test automatici Caratteristiche precisione e stabilità Assicurano l'affidabilità del test integrazione elevatissima, che consente di risparmiare l'investimento dell'utente rapida risposta dinamica modifica della sequenza diverse interfacce di comunicazione, per soddisfare i requisiti dei test automatici Funzioni e vantaggi Precisione e stabilità Garantire l'affidabilità del test Il test di affidabilità richiede solitamente il funzionamento di più chip per un lungo periodo di tempo sotto alimentazione. Prendendo come esempio HTOL, il numero di campioni è di almeno 231 pezzi e il tempo di prova è fino a 1000 ore. La precisione di tensione di N23020 è di 0,1mV, la stabilità a lungo termine di 40ppm/1000h, il rumore di ondulazione di tensione ≤2mVrms, può garantire efficacemente l'affidabilità del processo di test dell'utente, la protezione a tutto tondo, la sicurezza degli strumenti e dei prodotti in prova Integrazione ultraelevata, risparmio dell'investimento dell'utente Nel processo di ricerca e sviluppo dei chip, nella produzione di fogli di flusso e nella produzione di massa, di solito è necessario eseguire test di affidabilità su più gruppi di campioni. Inoltre, anche la corrente di dispersione del chip o della scheda giuntata è un importante indice di prova. Lo schema tradizionale adotta solitamente fonti di alimentazione lineari multiple con campionamento dei dati Per ulteriori informazioni, visitare il nostro sito Web