Dotato di una tecnologia all'avanguardia sulla base di rivelatori a semiconduttori appositamente sviluppati per la spettroscopia delle emissioni, lo spettrometro a emissione di scintille VeOS di OBLF consente un'analisi versatile, flessibile e rapida di tutti i comuni materiali metallici. Lo spettro analitico comprende anche l'analisi precisa di elementi di lunghezza d'onda corta come l'azoto o il basso tenore di carbonio. VantaggiCompleto e flessibile inserimento di tutti i compiti analiticiCaratteristiche facilmente estendibiliLa più recente tecnologia dei rivelatori appositamente sviluppata Prestazioni eccellenti per quanto riguarda il limite di rivelazione, la precisione, stabilitàProgettazione robusta per l'uso in ambienti gravosi Opzioni applicative multi-matrice più complete senza alcuna restrizione per quanto riguarda la selezione degli elementi di analisiRilevazione accurata di N e tracce di carbonio (ULC)VeOS di OBLF è il primo spettrometro a scintilla dotato di un sistema di rivelatore a semiconduttore le cui prestazioni analitiche - compresa la risoluzione spettrale richiesta per uno spettrometro da laboratorio - sono altrettanto buone quanto i sistemi basati su fotomoltiplicatori consolidati. Questa nuovissima tecnologia foto-rilevatore è stata sviluppata appositamente per la spettroscopia ad emissione di scintille e garantisce risultati eccellenti sull'intera gamma di lunghezze d'onda da 130 a 800 nm. Il design dei rivelatori sensibili alla luce, caratterizzati da una superficie 100 volte più sensibile alla luce rispetto ai rivelatori dei sistemi convenzionali, è stato appositamente adattato alle esigenze della spettroscopia ad emissione.
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