Apparecchiatura di calibratura per microscopio 045-200200
per misurazione in micron

Apparecchiatura di calibratura per microscopio - 045-200200 - OPTO - per misurazione in micron
Apparecchiatura di calibratura per microscopio - 045-200200 - OPTO - per misurazione in micron
Apparecchiatura di calibratura per microscopio - 045-200200 - OPTO - per misurazione in micron - immagine - 2
Apparecchiatura di calibratura per microscopio - 045-200200 - OPTO - per misurazione in micron - immagine - 3
Apparecchiatura di calibratura per microscopio - 045-200200 - OPTO - per misurazione in micron - immagine - 4
Apparecchiatura di calibratura per microscopio - 045-200200 - OPTO - per misurazione in micron - immagine - 5
Apparecchiatura di calibratura per microscopio - 045-200200 - OPTO - per misurazione in micron - immagine - 6
Apparecchiatura di calibratura per microscopio - 045-200200 - OPTO - per misurazione in micron - immagine - 7
Apparecchiatura di calibratura per microscopio - 045-200200 - OPTO - per misurazione in micron - immagine - 8
Aggiungi ai preferiti
Confronta con altri prodotti
 

Caratteristiche

Applicazioni
per microscopio, per misurazione in micron

Descrizione

Obiettivo di calibrazione Micro V1 La calibrazione ottica e la verifica della risoluzione sono parametri critici per la comprensione e l'ottimizzazione di qualsiasi sistema ottico Calibration Target Micro V1 è unico nel suo genere in quanto combina dati di risoluzione molto utili con microfunzioni ad altissima definizione, consentendo un'ottimizzazione efficiente e accurata di qualsiasi configurazione ottica -Micro caratteristiche ad altissima definizione, compatibili con i requisiti di calibrazione ottica più esigenti -Quattro quadranti unici che combinano obiettivi di risoluzione e scale di misura -Fornito in un'apposita custodia imbottita -Opzionale con certificato DKD. Con il certificato DKD, il numero di prodotto è 045-200200-DKD Il Target di calibrazione Micro V1 contiene strutture definite in diverse forme e dimensioni per facilitare la calibrazione del sistema e il rilevamento della distorsione. 1.da 10 lp/mm a 1000 lp/mm 2.Matrice di punti Ø20 μm 40x40 punti, griglia 100 μm 3.Contrasto e struttura Siemens 4.Matrice di punti Ø10 μm 40x40 punti, griglia 50 μm 5.Scala con passi fino a 10 μm Struttura cromata su vetro Dimensione minima della struttura 0,5 μm Dimensione massima della struttura 600 μm Forme della struttura varie Scala in direzione x e y Dimensioni 76x 26x 4,5 mm Peso 17 g

---

VIDEO

Fiere

Fiere a cui parteciperà questo venditore

Control 2025
Control 2025

6-09 mag 2025 Stuttgart (Germania)

  • Maggiori informazioni
    SLAS Europe 2025
    SLAS Europe 2025

    20-22 mag 2025 Hamburg (Germania)

  • Maggiori informazioni
    * I prezzi non includono tasse, spese di consegna, dazi doganali, né eventuali costi d'installazione o di attivazione. I prezzi vengono proposti a titolo indicativo e possono subire modifiche in base al Paese, al prezzo stesso delle materie prime e al tasso di cambio.