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Spettrofotometro per misure di illuminamento in riflessione ETA-ARC
benchtop

spettrofotometro per misure di illuminamento in riflessione
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Caratteristiche

Modo di misura
in riflessione
Altre caratteristiche
benchtop

Descrizione

Spettrofotometro ETA-ARC Sistema di misura veloce, preciso e facile da usare per rivestimenti oftalmici antiriflesso e duri Campi di applicazione Misurazione delle proprietà del rivestimento: Riflettanza residua; corrispondenza di colore e colore (dE-Lab); spessore dello strato del rivestimento duro (strato singolo e doppio HC) Punti di forza La misurazione può essere effettuata direttamente sulle lenti oftalmiche curve senza alcuna preparazione speciale della parte posteriore I lati anteriore e posteriore possono essere misurati singolarmente Misura su un lato dell'antiriflesso e del rivestimento duro Gamma spettrale da 380 a 1050 nm

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