Telecamera a infrarossi Xi 1M series
industrialeper il monitoraggio dei processidigitale

Telecamera a infrarossi - Xi 1M series - Optris GmbH & Co. KG - industriale / per il monitoraggio dei processi / digitale
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Caratteristiche

Applicazioni
industriale, per il monitoraggio dei processi
Tecnologia
digitale, analogica
Funzione
per acquisizione di immagini termiche
Spettro
a infrarossi
Sensore di immagine
CMOS
Interfaccia
Ethernet, USB
Opzioni e accessori
a motore

Descrizione

L'Optris Xi 1M è una termocamera a infrarossi a breve lunghezza d'onda che offre innovazione, convenienza e precisione nell'imaging termico senza contatto di oggetti difficili. Progettata per operare nella gamma degli infrarossi a corta lunghezza d'onda (1M: 0,85 - 1,1 μm), questa termocamera all'infrarosso lungimirante è progettata per acquisire dati di misura per un'analisi precisa della temperatura superficiale di acciaio caldo, ferro, ottone, rame, stagno, carbonio, ceramica e semiconduttori. Per rispondere alle rigorose esigenze di vari settori industriali, Optris Xi 1M offre ampi intervalli di misurazione della temperatura elevata, una precisione eccezionale e configurazioni del campo visivo personalizzabili. Molti oggetti di misura costituiti da materiali non lucidi mostrano un'emissività elevata e relativamente costante indipendentemente dalla consistenza della loro superficie, almeno negli intervalli spettrali delle onde lunghe. Tuttavia, molti materiali metallici e lucidi hanno una bassa emissività alle lunghezze d'onda dell'infrarosso. La bassa emissività di questi materiali nella banda dell'infrarosso a lunghezze d'onda elevate determina risultati di misura variabili e inaffidabili. La gamma spettrale di una termocamera all'infrarosso Xi 1M a breve lunghezza d'onda corrisponde alla massima emissività della maggior parte dei materiali metallici, facilitando così la misurazione della temperatura a distanza. Inoltre, a causa della legge di Planck sulla radiazione, nell'intervallo di lunghezza d'onda breve viene emessa una quantità esponenziale di radiazione infrarossa, per cui i problemi di emissività lineare hanno una minore influenza sulla ripetibilità dei risultati della misurazione della temperatura a breve lunghezza d'onda. Pertanto, la misurazione della temperatura senza contatto di materiali lucidi ad alte temperature dovrebbe essere sempre a onde corte, considerando l'intervallo di misurazione della temperatura più elevato.

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