OSTEC fornisce il design modulare dei sistemi NIOS che permette agli utenti finali di configurare un tester nanomeccanico specifico per le loro esigenze e necessità. Le configurazioni del tester nanomeccanico NIOS possono essere costituite dai seguenti moduli:
- Nanoindentatore ad ampio raggio
- Microscopio ottico
- Microscopio a forza atomica
- Tester nanomeccanico a scansione
- Misurazione delle proprietà elettriche
- Sensore di forza laterale
- Imaging topografico in situ
- Fase di riscaldamento
- Profilatore ottico confocale
NIOS Compact è progettato per la ricerca delle proprietà meccaniche superficiali di piccoli campioni. Questo dispositivo utilizza i metodi di microscopia a scansione della sonda, dentellatura strumentata e graffiatura con un range di carico fino a 100 mN. Questo modello è destinato allo studio delle proprietà fisiche e meccaniche su scala dimensionale lineare submicronica e nanometrica
Tutte le misure NIOS sono eseguite in un ambiente aperto (cioè senza l'uso di speciali trattamenti termici o di vuoto). Gli strumenti NIOS sono progettati con caratteristiche e funzionalità che ne consentono l'uso per la ricerca e le applicazioni industriali.
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