Piastra di posizionamento Z PZ 300 AP

piezoelettrica1 asseper microscopio

Gli stadi di posizionamento per microscopia piezoelettrica PZ 300 AP Z-Axis di Piezo System sono generalmente utilizzati per applicazioni che coinvolgono la scansione laser, i processi fluorescenti, la super risoluzione e l'elaborazione delle immagini. Questi sistemi sono realizzati per adattarsi agli stadi della microscopia XY. Hanno un design piatto che ne consente l'utilizzo per stand rovesciati Presentano anche architetture sceniche monolitiche e monolitiche, prive di elementi di gioco meccanici. Questi progetti strutturali consentono ai sistemi di viaggiare a distanze fino a 300 micron e forniscono loro una risoluzione di ±2,5 nanometri. Anche i parametri dinamici e i tempi di assestamento inferiori a pochi millisecondi (20 ms) sono forniti da questi sistemi. Ulteriori caratteristiche degli stadi di posizionamento per microscopia piezoelettrica PZ 300 AP Z-Axis includono frequenze di lavoro di 50 Hz e aperture standard Frame K.