Software per spettrofotometro Total F+

di gestionedi statisticadi interfaccia

Total Color F+, un software di misura spettrofotometrica, analizza e simula i film ottici sottili prodotti con rivestimento sotto vuoto per verificare la qualità dei rivestimenti AR (Anti-Reflex) all'interno dell'azienda. Potente strumento per migliorare l'efficienza del rivestimento AR Total Color F+ è dotato di un'interfaccia di facile utilizzo che semplifica la gestione delle misurazioni a film sottile. Eseguono facilmente controlli di qualità regolari e rapporti statistici che aiutano a ridurre i tempi di installazione dei processi di rivestimento, mantengono le macchine in condizioni ottimali e assicurano la massima qualità del rivestimento. Software di facile utilizzo per leggere i dati direttamente da qualsiasi spettrofotometro Cattura misure di riflessione assoluta e di trasmissione altamente accurate Trasforma le misure assolute in coordinate CIELAB per un'accurata definizione del colore Calcola l'indice di rifrazione, lo spessore fisico e il fattore di attrezzaggio dei singoli strati Modificare e creare specifiche per ogni rivestimento con Coating List Editor Simulazione manuale degli strati di rivestimento Requisiti di sistema: - PC con Microsoft Windows 7, Windows 10 32/64bit O.S. Porta seriale RS-232 (compatibile UART 16550) per la connessione Perkin Elmer Porta USB per il collegamento MS-400-C*/MS-400-C UV* Lettore CD-ROM (per l'installazione) Porta USB per chiave hardware di protezione software Stampante Spettrofotometri supportati - MS-400-C*, MS-400-C-UV* Perkin Elmer Lambda 12, 20 e 25 * Strumenti portatili in fibra ottica