Sistema di test per l'industria elettronica Compact Digital

Le innovazioni più recenti nelle componenti digitali richiedono un tester digitale più specializzato che caratterizza le capacità che vanno oltre l'analizzatore di logica semplice. La fabbricazione industriale richiede le capacità di elaborazione al livello dell'hardware di accelerare i tempi della prova. Allo stesso tempo, le nuove famiglie di logica, in base ai livelli di tensione variabili di inclusione ed ai singoli o segnali differenziali continuano a fare questi ancor più complessi. Il tester designato come sistema di prova compatto di Digital (DTS) Next>series è risposta di Seica alla richiesta costante del verificare i dispositivi integrati via alle le tecniche basate a vettore ed i protocolli dedicati quale la ricerca di frontiera, senza escludere la necessità di combinare la prova del in-circuito pure. ATE Resources – Ict e prova funzionale Come qualunque altra soluzione di Seica, il sistema di prova compatto di DTS Next>series, utilizza la piattaforma di VIP, di cui la caratteristica principale è la possibilità per consegnare la migliore integrazione della tecnologia e della facilità di uso, fornenti all'utente tutte capacità richieste per sia il in-circuito che la prova funzionale senza necessariamente essere un esperto. Ciò è grazie possibili al sistema di misura di avanguardia (basato sul modulo brevettato di ACL) ed al software della gestione di VIVA. Quello primo, implementato sulla tecnologia di DSP, integra tutte capacità difficili mentre permette all'esecuzione completamente automatizzata della prova. Inoltre, la comunicazione al PC principale tramite cavo a fibre ottiche minimizza la sensibilità alle perturbazioni esterne. Quello secondo, progettato con una logica semplice e facile da usare, fornisce l'autonomia operativa in termini di esecuzioni di routine di prove e dell'amministrazione di sistema.