Spettrofotometro a colori TS8260
a sferabenchtopper misurazione di colore

Spettrofotometro a colori - TS8260 - Shenzhen 3nh Technology Co.,Ltd. - a sfera / benchtop / per misurazione di colore
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Caratteristiche

Spettro
a colori
Modo di misura
a sfera
Altre caratteristiche
benchtop
Applicazioni tecniche
per misurazione di colore, per l'analisi
Lunghezza d'onda

Min.: 400 nm

Max.: 700 nm

Descrizione

Spettrofotometro portatile da tavolo TS8260 Introduzione: Lo spettrofotometro portatile da tavolo TS8260 è uno spettrofotometro sviluppato da 3NH con tecnologia spettroscopica di base indipendente. Adotta sensori incorporati a matrice di fotodiodi al silicio (40 gruppi in doppia fila) e una lavagna bianca importata, tenendo conto della velocità di misurazione e della comodità di funzionamento. La struttura rotante e pressurizzata rende il test più comodo. Lo spettrofotometro portatile da tavolo TS8260 per la misurazione del colore è caratterizzato da una ripetibilità Δ E * ab facilmente controllabile entro 0,02, e da errori interni Δ E * ab controllabili entro 0,15. Questa misura di precisione lo rende adatto all'analisi e al trasferimento del colore in laboratorio. Applicazione dello spettrofotometro da tavolo portatile TS8260: Lo spettrofotometro portatile da tavolo TS8260 è uno strumento di misurazione del colore dotato di un diametro di commutazione libero di Φ4 mm e Φ8 mm, ottimo per la misurazione orizzontale o verticale, con un'adattabilità più ampia, adatto per la misurazione precisa del colore e il controllo di qualità nel settore tessile e della stampa e tintura di indumenti, nell'elettronica della plastica, nella ceramica e in altre industrie; inoltre può essere utilizzato per la misurazione di campioni di fluorescenza. Vantaggi tecnici: 1.Adotta la tecnologia di sintesi d/8 SCI/SCE di uso comune internazionale Lo spettrocolorimetro TS8260 adotta la tecnologia di sintesi D/8 (illuminazione diffusa, angolo di visione di 8 gradi), ampiamente applicabile in tutto il mondo, e SCI/SCE (componente speculare inclusa/componente speculare esclusa), che supporta la misurazione rapida simultanea SCI+SCE e il tempo di test è di circa 3,2 secondi.

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