Spettrometro EDXRF EDX-8100

a fluorescenza a raggi X in dispersione di energiaXRFper l'industria dei semiconduttori

Panoramica
EDX-8100 è uno spettrometro a fluorescenza a raggi X a dispersione di energia (EDXRF) progettato per analisi elementari di routine e avanzate su solidi, polveri, liquidi e film sottili. Unisce una camera campioni di ampie dimensioni a un ingombro ridotto e supporta modalità di misura con spurgo di elio e vuoto per migliorare la rilevazione degli elementi leggeri nei liquidi.

Caratteristiche

• Applicazioni
  • Analisi di materiali elettrici ed elettronici, screening RoHS e alogeni
  • Analisi di film sottili per semiconduttori, dischi, cristalli liquidi e celle solari
• Progetto funzionale
  • Ampia camera campioni con larghezza di installazione ridotta (circa il 20% in meno rispetto al modello precedente)
• Software PCEDX Navi
  • Interfaccia grafica con flussi di lavoro semplificati per i nuovi utenti e opzioni avanzate per gli analisti esperti
• Capacità analitiche
  • Rivelatore Silicon Drift (SDD) e hardware ottimizzato per sensibilità elevata, analisi rapide e migliore risoluzione energetica
  • Supporto per il rilevamento di elementi leggeri, con sensibilità migliorata per i liquidi mediante spurgo di elio
• Flessibilità dei campioni
  • Accetta campioni da piccoli a grandi, polveri, liquidi e film sottili
  • Opzioni: unità di misura in vuoto e unità di spurgo elio
• Funzioni di quantificazione
  • Metodo della curva di calibrazione e strumenti completi di quantificazione per analisi di routine e specialistiche

Video (esempi)

• Serie EDX-7000/8000 — dimostrazione delle capacità dello strumento e delle applicazioni tipiche
• Analisi di pietre preziose naturali vs imitazioni — esempio di analisi di elementi leggeri con EDX-8000/8100

Specifiche

• Tipo di strumento: spettrometro EDXRF da banco
• Modello: EDX-8100
• Rivelatore: Silicon Drift Detector (SDD)
• Sorgente X: tubo Rh; intervallo di tensione tipico 4 kV – 50 kV
• Raffreddamento: raffreddamento ad aria (nessun azoto liquido richiesto)
• Campo di misura: elementi leggeri fino all'uranio (dipende dal modello)
• Opzioni: unità di spurgo elio, unità di misura in vuoto, kit di screening RoHS, cambia-campioni automatico
• Gestione campioni: ampia camera; supporta polveri, liquidi, film sottili e campioni solidi di varie dimensioni
• Software: PCEDX Navi per funzionamento semplificato e funzioni avanzate di analisi
• Quantificazione: metodo della curva di calibrazione, opzioni basate su parametri fondamentali e altre funzioni di quantificazione
• Dimensioni (approx.): 46 cm x 59 cm x 36 cm; Peso (approx.): 45 kg