Camera per test termostatica STS-PCIE-HTAC-200PC
di temperaturaCEMdi analisi

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Caratteristiche

Tipo
termostatica
Parametro controllato
di temperatura
Tipo di test
CEM, di analisi, di invecchiamento
Uso previsto
per schede elettroniche, per semiconduttore, per strumenti avionici
Altre caratteristiche
ad alte temperature
Volume

404 l
(107 gal)

Temperatura

Max.: 100 °C
(212 °F)

Min.: 15 °C
(59 °F)

Lunghezza

1.700 mm
(66,93 in)

Larghezza

1.130 mm
(44,5 in)

Profondità

700 mm
(28 in)

Descrizione

I produttori di SSD hanno l'esigenza immediata di un sistema di test in grado di testare le unità SSD come unità generiche standard, ma anche di verificare le modalità di guasto delle unità SSD e gli attributi della tecnologia allo stato solido sottostante. Funzioni dell'intero sistema di test 1. Supporto della personalizzazione di pezzi di prova SATA per la produzione di massa, come 200 pezzi. 2. Test di supporto (RT+15℃~100℃) 3. Supporto di test di interruzione di corrente anormale e test di invecchiamento 4. Supporto test di controllo automatico della temperatura 5. Supporto a tutti gli usi del software per il test di controllo intelligente 6. Supporto alla personalizzazione del software di test 7. Supportare l'equilibrio della velocità del vento e della temperatura nella scatola 8. Supporto del controllo rapido del riscaldamento e del raffreddamento 9. Supporto di R&S personalizzato per l'invecchiamento di PCIE/EMMC/UFS/DRAM/Flash 10. Supporto del controllo di rete, è possibile controllare il test in luoghi diversi e vedere i risultati del test 11. Supporto del test di controllo remoto APP Quattro funzioni principali del software di test: 1. Test del protocollo SATA 2. Test degli standard industriali 3. Test di regressione R&S 4. Test di iniezione di errori

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