Spettrometro a fluorescenza Thick800A
a raggi XXRFEDXRF

Spettrometro a fluorescenza - Thick800A - Skyray Instrument - a raggi X / XRF / EDXRF
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Caratteristiche

Tipo
a fluorescenza, a raggi X, XRF, EDXRF
Settore
per l'analisi , di misura, automatico, per gioielleria
Configurazione
da banco, mobile
Altre caratteristiche
multicanale

Descrizione

Misurazione del contenuto di oro, platino, argento e gioielli vari Misura dello spessore del rivestimento metallico, analisi del contenuto della soluzione galvanica e del rivestimento Lavorazione dei metalli preziosi, lavorazione dei gioielli; banche, vendita e analisi di gioielli, ecc Caratteristiche del prodotto: Soddisfazione dei requisiti di prova di campioni di diversi spessori e forme Il collimatore Φ0,1 mm facilita la misurazione di piccoli punti di prova. La piattaforma mobile ad alta precisione posiziona accuratamente il punto di prova, con una ripetibilità inferiore a 0,005 mm Il laser di posizionamento dell'altezza posiziona automaticamente l'altezza del test. Il laser di posizionamento produce un punto luminoso e il punto di prova deve essere allineato con questo punto. La punta di prova è protetta da un sensore sensibile all'altezza.

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* I prezzi non includono tasse, spese di consegna, dazi doganali, né eventuali costi d'installazione o di attivazione. I prezzi vengono proposti a titolo indicativo e possono subire modifiche in base al Paese, al prezzo stesso delle materie prime e al tasso di cambio.