Apparecchio di misura delle proprietà elettriche Materials Lab XM

di tensionedi correntedi impedenza

Materials Lab XM è un prodotto XM (Xtreme Measurement) specifico per applicazioni che si concentra principalmente sulla ricerca sui materiali. Il prodotto Materials Lab XM fornisce un dominio del tempo di riferimento completamente integrato e una piattaforma di misurazione CA. Non c'è bisogno di passare da una tecnica all'altra. Le misure nel dominio del tempo includono la caratterizzazione I-V (tensione di corrente) e tecniche di impulso veloce. Le tecniche di prova in corrente alternata includono tutto, dall'analisi singola sinusoidale, alla trasformata multisina/veloce di Fourier per analisi a bassa frequenza più rapide, alle armoniche e all'intermodulazione per testare la linearità e la rottura dei materiali. Le misure di spettroscopia dell'impedenza elettrica (EIS), ammissione, permittività e capacità sono tutte fornite dalla piattaforma software XM-studio MTS, insieme alla funzionalità di analisi dei circuiti integrati equivalenti. I test nel dominio del tempo e AC possono essere combinati in sequenze di test e commutati istantaneamente, consentendo alle forme d'onda DC e ad impulsi di attivare le portanti di carica, seguite immediatamente dall'analisi EIS delle portanti attivate. Questa integrazione strettamente collegata è solo con il Materials Lab XM. Le misure includono: - I-V (scansioni di tensione con misurazione della corrente - utilizzate per caratterizzare materiali elettronici e dielettrici) - P-E (polarizzazione / campo elettrico - utilizzato per eseguire test di isteresi per caratterizzare i materiali ferroelettrici) - Impulso ad alta velocità (utilizzato per attivare portatori di carica in materiali elettronici e dielettrici) - Scale e forme d'onda analogiche a rampa continua senza gradini - Impedenza, ammissione, permittività/capacità, modulo elettrico - Capacità C-V - tensione, Mott-Schottky