Diffrattometro a raggi X Xstress G2

da laboratorioportatile

Il diffrattometro a raggi X X Xstress G2 rappresenta dei progressi nel design e nella costruzione che forniscono una maggiore affidabilità e funzionalità in un analizzatore di stress residuo e austenite trattenuta veramente portatile. - Non distruttivo - Adatto per l'uso in laboratorio, in fabbrica e sul campo - Montaggio rapido, pronto all'uso in 10 minuti - Facile sostituzione del tubo a raggi X (Cr, Cu, Co, Fe, V, Ti, Mn) che permette di misurare diversi materiali - Distanza di misurazione 50 mm - Due rilevatori NMOS sensibili alla posizione - Angolo 2θ regolabile istantaneamente - Software XTronic per l'esecuzione della misura e il calcolo delle tensioni residue e del contenuto di austenite trattenuta (opzionale) - Modalità di misura d-sin²χ e Ω come standard Caratteristiche - Due rilevatori di posizione NMOS posizionati simmetricamente - larghezza del rilevatore standard 15 - per altri rivelatori vedere le opzioni - 2θ-range dei rivelatori - regolabile in modo continuo da 110° a 165 - angoli inferiori come opzione con archi di rivelatori speciali - Distanza di misurazione standard 50 mm - Collimatori sostituibili - dimensioni spot 1/2/3/4/5 mm - collimatori speciali disponibili come opzione - Tubo a raggi X - Tubo al Cr come standard: potenza massima 30 kV/9 mA/270 W - Unità principale Xstress (generatore di alta tensione) - Alimentazione dei raggi X 5-30 kV/0-10 mA regolabile liberamente entro i limiti - sistema di raffreddamento a liquido autonomo - include tutti gli interblocchi necessari per la completa sicurezza - ingresso alimentazione universale