Conduttimetro da banco EddyCus® TF map 2525RM

EddyCus® TF map 2525RM - Mappatura della conducibilità e identificazione dei difetti nelle pellicole sottili Una varietà di caratteristiche dei materiali determina la conduttività dei materiali. Oltre alla sua composizione, anche la sua struttura e la sua purezza influenzano la conduttività. L'EddyCus® TF map 2525RM è un sistema di mappatura a correnti parassite dedicato all'imaging ad alta risoluzione della conducibilità e delle caratteristiche correlate che espongono le proprietà del materiale, gli effetti e i difetti. Il sistema può essere equipaggiato con vari sensori EddyCus per l'imaging della conducibilità ad alta risoluzione o ad alta penetrazione e la rilevazione dei difetti mediante l'uso di sonde differenziali. Il sistema supporta la creazione di immagini (Eddy Current C-Scan) della superficie con un passo di misura da 100 µm a 10 mm. Il sistema a tre assi è in grado di scansionare aree 2D e 2.5D con dimensioni fino a 250 x 250 mm / 10 x 10 pollici. Le applicazioni tipiche riguardano la caratterizzazione della superficie di materiali conduttivi come piastre di SiC, grafite, metallo, lega o acciaio o altri prodotti semilavorati conduttivi. Inoltre, il sistema può essere utilizzato per testare l'integrità elettrica dell'elettronica stampata e degli strati. Il test delle correnti parassite permette di quantificare la conducibilità del materiale [IACS o MS/m] o la resistività [Ohm m o Ohm / mm² / m]. La conduttività dei materiali fornisce informazioni sulle caratteristiche del materiale come il tipo di materiale e l'omogeneità della composizione del materiale. Oltre alle informazioni dirette sulle proprietà elettriche, la conducibilità contiene anche informazioni che riguardano le sue proprietà termiche o le sue proprietà meccaniche e la sua integrità strutturale.