Pinza per movimentazione di wafer
in PEEK

Pinza per movimentazione di wafer - Taizhou Ark International Trade Co.,Ltd - in PEEK
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Caratteristiche

Applicazioni prodotto
di wafer
Altre caratteristiche
in PEEK

Descrizione

Dimensioni: 4", 5", 6", 8", 12" e non standard. Strumento portatile in PEEK, uno strumento per l'ispezione manuale dei wafer. Il PEEK non contiene elementi alogeni e non contamina i wafer dei semiconduttori. 1. Resistenza alle alte temperature: Con una resistenza al calore fino a 300°C, può mantenere la sua forza e stabilità dimensionale alle alte temperature dei processi di saldatura senza piombo. A temperature di 250-280°C, non si verifica alcuna deformazione e il riflusso avviene entro 5-10 secondi; 2. Resistenza all'usura: elevata resistenza meccanica e all'usura; 3. Stabilità dimensionale: I materiali di riempimento riducono il coefficiente di espansione termica, aumentano la temperatura di deformazione termica e garantiscono un rigoroso controllo dimensionale; 4. Basso livello di degassamento: Riduce la contaminazione e migliora l'affidabilità nelle applicazioni in cui gli accessori hanno requisiti di purezza (come i dischi rigidi e le scatole per wafer); 5. Bassa igroscopicità: Molto importante per mantenere la stabilità dimensionale e le prestazioni di isolamento. Le pinze per wafer in PEEK e le pinzette per wafer in silicio possono essere utilizzate per lungo tempo a una temperatura di 260°C. Possono mantenere un'elevata resistenza alle alte temperature, hanno una buona stabilità dimensionale e un piccolo coefficiente di espansione lineare. Allo stesso tempo, presentano proprietà eccellenti come la resistenza all'usura da scorrimento e da fretting e un basso coefficiente di attrito. Quando si utilizzano i morsetti per wafer in PEEK per bloccare wafer e wafer di silicio, non si causano graffi sulla superficie dei wafer e dei wafer di silicio e non si producono residui sui wafer e sui wafer di silicio a causa dell'attrito, migliorando così la pulizia della superficie dei wafer e dei wafer di silicio.

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