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Apparecchio di misura di tensione 2650 series
di correnteelettronicoper R&S

Apparecchio di misura di tensione - 2650 series - Tektronix - di corrente / elettronico / per R&S
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Caratteristiche

Misurando
di tensione, di corrente
Tecnologia
elettronico
Applicazioni
per R&S, per l'industria dei semiconduttori
Configurazione
da banco
Altre caratteristiche
di alta precisione, con display, ad alta velocità

Descrizione

Gli strumenti SMU SourceMeter ad alta potenza della serie 2650 sono progettati specificamente per caratterizzare e testare elettronica e semiconduttori di potenza ad alta tensione/corrente, come diodi, FET e IGBT, LED ad alta luminosità, convertitori CC-CC, batterie, celle solari e altri materiali, componenti, moduli e sottogruppi ad alta potenza. Offrono una potenza, una precisione, una velocità, una flessibilità e una facilità d'uso senza precedenti per migliorare la produttività in ambienti di ricerca e sviluppo, test di produzione e affidabilità. Sono disponibili due strumenti che offrono una potenza fino a 3000V o fino a 2000W di corrente impulsiva. Sorgente/carico di tensione e corrente a quattro quadranti altamente flessibile, accoppiato a misuratori di tensione e corrente di precisione Sorgente o sink (2651 A) fino a 2.000W di potenza pulsata (±40V, ±50A) o fino a 200W di potenza DC (±10V@±20A, ±20V@±10A, ±40V@±5A); collegare facilmente due unità (in séguito o in parallelo) per creare soluzioni fino a ±100Ao ±80V Sorgente o dissipatore (2657A) fino a 180W di potenza CC o pulsata (±3000V@20mA, ±1500V@120mA) Software integrato basato su browser Web Scelta tra modalità di misura digitalizzante o integrante Tecnologia TSP (Test Script Processing) Bus di espansione del canale TSP-Link Compatibile con l'apparecchiatura di prova per dispositivi ad alta potenza modello 8010 e il pannello di interfaccia ad alta potenza modello 8020 Strumento software gratuito Test Script Builder Software opzionale ACS Basic per la caratterizzazione dei componenti a semiconduttore Offre le migliori prestazioni della categoria con una risoluzione di 61/4 cifre. Supporta la caratterizzazione/il test di semiconduttori di potenza, H BLED, dispositivi ottici, celle solari, GaN, SiC e altri materiali e dispositivi composti.

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