Il IP750Ex-HD offre capacità di test per sensori d'immagine per dispositivi attuali e futuri, garantendo il costo di test più basso.
- Sistema di test avanzato per sensori d'immagine progettato per dispositivi attuali e di nuova generazione.
- Ottimizzato per un'elevata produttività e un basso costo di test.
- Supporta un'ampia gamma di tecnologie e configurazioni di sensori d'immagine.
- Architettura flessibile per adattarsi ai requisiti in evoluzione dei dispositivi.
- Progettato per affidabilità e scalabilità negli ambienti di produzione.
Vantaggi e Configurazioni:
- Elettronica a pin ad alta densità per test paralleli.
- Risorse di test configurabili per soddisfare le esigenze del dispositivo.
- Strumenti software completi per lo sviluppo di test e l'analisi dei dati.
- Integrazione senza soluzione di continuità con sistemi di gestione automatizzati.
Applicazioni Tipiche:
- Test di sensori d'immagine CMOS e CCD.
- Garanzia di qualità per dispositivi di imaging automobilistico, mobile e industriale.
- Ambienti di test di produzione e ingegneria.
Caratteristiche Principali:
- Alto parallelismo per aumentare la produttività.
- Basso costo di proprietà e operazione.
- Piattaforma a prova di futuro che supporta nuove tecnologie di sensori.
Specifiche Tecniche / Caratteristiche:
- Elettronica a pin ad alta densità
- Risorse di test configurabili
- Suite software completa
- Integrazione con automazione
- Supporto per sensori CMOS e CCD
- Architettura scalabile