Sensore interferometrico NS-1

Si tratta di un nuovo sistema di interferometria ottica che non è limitato dalla precisione degli elementi ottici o dell'oggetto da misurare, basato sul fatto che la statistica del campo di diffusione (laser speckle) generato quando un oggetto dalla superficie ruvida viene irradiato da un laser è completamente casuale in senso statistico. Applicazioni previste - Analisi del funzionamento di microcomponenti meccanici come i MEMS - Applicazioni in cui gli estensimetri non sono applicabili (misurazione delle caratteristiche di deformazione e di deformazione termica dei materiali polimerici e delle parti micro-giuntate) - Campioni biologici (misurazione del comportamento a brevissimo termine della crescita delle piante, monitoraggio di alta precisione della crescita delle colture nelle fabbriche di piante, impostazione delle condizioni ottimali di coltivazione) - Misurazione ambientale (valutazione ambientale con organismi viventi) Caratteristiche - Misure di alta precisione - È possibile effettuare misure di ordine sub-nanometrico (il sistema di misura è determinato semplicemente dal numero di punti dati utilizzati) - Misura senza contatto e non invasiva - Sistema ottico semplice - Non è necessario un punto di riferimento assoluto per la misurazione (è possibile utilizzare due punti qualsiasi) Laser - Lunghezza d'onda: 660 nm Uscita massima: 90mW Classe 3B equivalente Diametro del fascio laser - Circa 1,0 mm Intervallo del raggio laser - Circa 3,0 mm Precisione di misurazione - ±1,0nm PC e software - Forniti come accessori standard Frequenza fotogrammi - 2 fps Alimentazione - Monofase, AC100V, 50/60Hz, 5A Dimensioni - - L240 × P200 × H280 mm (unità principale) - L390 × P320 × H200 mm (unità di controllo) Peso (circa) - - 5 kg (unità principale) - 6 kg (unità di controllo)