Misuratore di spessore di film GPA EVO II

fissosenza contattocapacitivo

Descrizione del prodotto
Il sistema di misura del profilo di spessore TSM (GPA EVO II) è un profilometro di spessore per film destinato ad uso di laboratorio e misure offline, progettato per produttori di film soffiati e film estrusi (cast). Combina sensori capacitivo non a contatto e micrometrici con calibrazione automatica e il software integrato GPA-Win per fornire misure ripetibili a livello di micron su tutto il profilo del film. Progettato per QA, test di laboratorio e validazione dei processi, consente la verifica indipendente dello spessore e il supporto alla conformità alle norme ISO/DIN.

Caratteristiche principali

• Tipo di misura: Misura del profilo di spessore offline per applicazioni su film soffiati e film estrusi
• Precisione di misura: ±0,2 μm per una validazione precisa e ripetibile
• Risoluzione del sensore: 0,05 μm per un'analisi dettagliata del profilo
• Sistema di calibrazione: Azzeramento automatico per garantire una base di riferimento consistente
• Tecnologia dei sensori: Sensori capacitivi non a contatto e micrometrici per funzionamento affidabile e con basso consumo
• Interfaccia software: GPA-Win integrato con visualizzazione del profilo e strumenti di reporting
• Flessibilità di misura: Adatto a diverse lunghezze di campione e requisiti produttivi
• Movimentazione film: Supporto con rulli per un movimento del campione stabile e controllato
• Connettività: Interfaccia LAN per integrazione PC e gestione strutturata dei dati
• Conformità: Progettato per supportare gli standard di qualità ISO e DIN

Dati tecnici

• Larghezza campione film: 100 mm
• Lunghezza massima campione: 19,99 m
• Velocità di misura: 15–80 mm/s
• Intervallo di misura: 0–300 μm
• Risoluzione del sensore: 0,05 μm
• Precisione di misura: ±0,2 μm
• Forza di pressione: 0,3–0,5 N
• Interfaccia: 1 x LAN (PC)