Spettrometro a raggi X JB-EDX8800

XRFper analisi spettraledi acquisizione dati

EDX8800E assorbe tutti i vantaggi della serie EDX ed è inoltre dotato di un sistema di vuoto, in modo da ampliare il campo di prova, migliorare il limite di rilevamento e aumentare la stabilità dei dati. Caratteristiche del prodotto : 1.Il rilevatore di correnti d'aria di silicio importato dall'America con una risoluzione energetica più elevata migliora notevolmente la rilevazione. 2.Limite di elementi di luce che è 100 volte superiore a quello del Si-pin detector. La portata di misura è più ampia, che può quasi soddisfare i requisiti di analisi degli elementi di tutti i materiali convenzionali. 3.Il sistema di elaborazione dell'integrazione dei dati importato dall'America rende più veloce l'acquisizione dei dati, la misurazione più stabile con eccellente ripetibilità e stabilità a lungo termine. 4.Il software aggiornato che integra molteplici metodi di elaborazione delle immagini rende la misurazione dei dati più accurata e stabile. 5.Il software completo monitora le parti centrali in esecuzione garantisce un funzionamento sicuro. 6.Il sistema di vuoto specializzato offre migliori prestazioni del vuoto ed eccellenti risultati di prova. Elementi misurabili - Na-U Contenuto dell'elemento - 1ppm-99,99% Limite di rilevamento - 1 ppm Tempo di misura - 60-200s (regolabile) Potenza - AC220±5V Corrente di uscita massima del tubo a raggi X - 1mA Pressione finale - 6,7×10-2 Pa Dimensioni della camera campione - 610*320*100(mm) (Senza vuoto)/Φ100*h75(mm) (Vuoto) Stabilità di lavoro a lungo termine (soggetto a campione standard) - ±0,05% (alto contenuto) /±0,002% (micro contenuto) Eccellente ripetibilità (soggetto a campione standard) - 0,06%((alto contenuto)/±0,0025%(microcontenuto)