Il SIGMA FE-SEM (Field Emission Scanning Electron Microscopes) è una serie di microscopi avanzati utilizzati per la rilevazione degli elettroni.
Viene fornito con un software di navigazione delle immagini che è incorporato in SmartSEM. È stato progettato a partire dalla colonna GEMINI per garantire la stabilità dell'immagine a bassa tensione. Il montaggio di doppi rivelatori EDS nella sua camera ne aumenterà la funzionalità.
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