Microscopio a raggi X Xradia 510 versa

da laboratorio3Din-situ

ZEISS Xradia 510 Versa Il vostro sistema di imaging 3D Submicron con una flessibilità rivoluzionaria Rompete la barriera della risoluzione di un micron con questo microscopio a raggi X per l'imaging 3D e le indagini in situ / 4D. Utilizzate la combinazione di risoluzione e contrasto con distanze di lavoro flessibili per estendere la potenza dell'imaging non distruttivo nel vostro laboratorio. Approfittate della sua architettura che utilizza una tecnica di ingrandimento a due stadi per ottenere una risoluzione submicronica a distanza (RaaD). Ridurre la dipendenza dall'ingrandimento geometrico mantiene una risoluzione submicronica anche a grandi distanze di lavoro. In evidenza Godetevi la versatilità anche a grandi distanze di lavoro dalla sorgente - da millimetri m a centimetri. Esecuzione di Imaging 3D per materiali morbidi o a bassa Z con assorbimento avanzato e contrasto di fase innovativo Raggiungere una risoluzione leader mondiale a distanze di lavoro flessibili oltre i limiti del micro-CT basato sulla proiezione Risolvere le caratteristiche in scala submicrometrica per diverse dimensioni del campione Estendere l'imaging non distruttivo in laboratorio con una soluzione in situ / 4D Indagare nel tempo i materiali in ambienti simili a quelli nativi Produzione con qualità dell'immagine