ZEISS Xradia 610 e 620 Versa
Microscopia a raggi X 3D per immagini submicroniche più rapide di campioni intatti
Andate oltre l'esplorazione per raggiungere i vostri momenti di scoperta.
Sbloccate nuovi gradi di versatilità per la vostra ricerca scientifica e industriale con i più avanzati modelli di microscopio a raggi X 3D della famiglia ZEISS Xradia Versa.
Basandosi sulla migliore risoluzione e sul migliore contrasto del settore, ZEISS Xradia 610 & 620 Versa amplia i confini della vostra immagine non distruttiva su scala sub-micronica.
In evidenza
Estendere i limiti delle soluzioni Micro e Nano-CT
Microscopia non distruttiva su scala sub-micronica di campioni intatti
Flusso più elevato e scansioni più rapide senza compromettere la risoluzione
Risoluzione spaziale reale di 500 nm con una dimensione voxel minima raggiungibile di 40 nm
Alta risoluzione su un'ampia gamma di tipi di campioni, dimensioni e distanze di lavoro
Imaging in situ per la caratterizzazione non distruttiva di microstrutture in ambienti controllati e nel tempo
Aggiornabile ed estendibile con innovazioni e sviluppi futuri
Produzione con qualità dell'immagine
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