Microscopio a raggi X Xradia series

da laboratorio3Din-situ

ZEISS Xradia 610 e 620 Versa Microscopia a raggi X 3D per immagini submicroniche più rapide di campioni intatti Andate oltre l'esplorazione per raggiungere i vostri momenti di scoperta. Sbloccate nuovi gradi di versatilità per la vostra ricerca scientifica e industriale con i più avanzati modelli di microscopio a raggi X 3D della famiglia ZEISS Xradia Versa. Basandosi sulla migliore risoluzione e sul migliore contrasto del settore, ZEISS Xradia 610 & 620 Versa amplia i confini della vostra immagine non distruttiva su scala sub-micronica. In evidenza Estendere i limiti delle soluzioni Micro e Nano-CT Microscopia non distruttiva su scala sub-micronica di campioni intatti Flusso più elevato e scansioni più rapide senza compromettere la risoluzione Risoluzione spaziale reale di 500 nm con una dimensione voxel minima raggiungibile di 40 nm Alta risoluzione su un'ampia gamma di tipi di campioni, dimensioni e distanze di lavoro Imaging in situ per la caratterizzazione non distruttiva di microstrutture in ambienti controllati e nel tempo Aggiornabile ed estendibile con innovazioni e sviluppi futuri Produzione con qualità dell'immagine