Interferometro per misurazione della planarità Verifire Asphere+

di calibrazioneper la misurazione dello spessorelaser

Le ottiche asferiche consentono di ottenere vantaggi significativi nella progettazione e nell'implementazione di sistemi di imaging, rilevamento e laser utilizzati in settori quali la difesa e l'aerospaziale, i sistemi di esposizione e ispezione dei semiconduttori e i sistemi di imaging medicale. La produzione di asferiche che supportano queste applicazioni dipende dalla metrologia di precisione. Dopo tutto, quando si tratta di ottiche asferiche, non si può produrre ciò che non si può misurare. Il Verifire Asphere+ (VFA+) sfrutta i vantaggi dell'interferometria Fizeau per fornire una combinazione unica di metrologia precisa, ad alta risoluzione, veloce e a tutta apertura per asferiche Il VFA+ offre una piattaforma metrologica flessibile per misurare una gamma di asferiche asimmetriche con il solo cambio della sfera di trasmissione. Il VFA+ è dotato di uno stadio secondario opzionale che supporta un ologramma generato al computer (CGH) che estende la capacità di misurare asfere a forme libere non simmetriche e a ottiche asferiche fuori asse. NUOVO! Con l'obiettivo di migliorare l'esperienza dell'utente, è possibile impostare facilmente nuove misure, navigare tra i dati e i risultati di misura e diagnosticare i problemi di produzione. Il software Mx™ consente di rendere efficienti le fasi di ricerca e sviluppo e di prototipazione e di migliorare le applicazioni di produzione grazie a funzionalità di impostazione, allineamento e misura semplici e con un solo clic. - Adattabile alla misura automatizzata di vassoi di ottiche in più parti - Utilizzabile come "normale" interferometro Fizeau con guida per raggi di curvatura di estrema precisione - Soluzione di metrologia asferica conveniente e compatibile con il futuro: aggiornate i sistemi VFA esistenti a VFA+!