Profilometri in tempo reale Chotest

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profilometro per contatto diretto
profilometro per contatto diretto
SJ5730-100

... 1. Una volta effettuata la scansione per i parametri di profilo e di rugosità come Ra e Pt 2. Rugosità della superficie: Parametro R, parametro P, parametro W, ecc. 3. Valutazione del profilo di superficie: Può valutare il raggio, l'angolo, la distanza, ...

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Chotest Technology Inc.
profilometro meccanico
profilometro meccanico
SJ5780-400

... Lo strumento di misurazione dei contorni a scansione bidirezionale SJ5780-400 è uno strumento di misurazione dei contorni completo a scansione attiva di grande portata e alta precisione. Lo strumento è dotato di asse X e asse Z con un sistema di movimento ...

Altri prodotti
Chotest Technology Inc.
profilometro 3D
profilometro 3D
SuperView W1

... Il profilometro ottico 3D SuperView W1 è uno strumento ideale per la misurazione sub-nanometrica di varie parti di precisione. Basato sul principio della tecnologia di interferenza della luce bianca, combinato con il modulo di scansione ...

Altri prodotti
Chotest Technology Inc.
profilometro meccanico
profilometro meccanico
NS200-D

Range di misura: 0 mm

... Stylus Nano Profiler NS200 è uno strumento di misura a contatto di ultra-precisione per la misurazione della rugosità superficiale e del profilo microscopico, come l'altezza del gradino micro-nano e lo spessore del film. NS200 utilizza un sensore di spostamento ...

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Chotest Technology Inc.
profilometro visivo
profilometro visivo
SJ5730-200

... Scansione su due lati Dedicato ai pezzi filettati Caratteristiche 1.Funzione di scansione del profilo su due lati Ottiene il profilo dell'oggetto scansionando la superficie con uno stilo a forma di T, quindi il software può calcolare le dimensioni 2D ...

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Chotest Technology Inc.
profilometro ottico
profilometro ottico
SJ5720-OPT100

... La serie SJ5720-OPT è in grado di misurare sia la rugosità della superficie che il profilo dopo una sola scansione. Inoltre, è disponibile un modulo software dedicato per la misura e l'analisi di superfici asferiche di grandi dimensioni, per cui questa ...

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