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Risoluzione spaziale: 0,7, 1, 0,6 nm
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Risoluzione spaziale: 0,02 µm
... Panoramica del prodotto
Il
microscopio a forza atomica (AFM wafer-level) è uno strumento di sonda a scansione ad alta risoluzione progettato per caratterizzare la morfologia superficiale tridimensionale e le proprietà multifunzionali ...
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