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Risoluzione spaziale: 0,7, 1, 0,6 nm
... Caratterizzazione al microscopio elettronico a scansione di nanomateriali con risoluzione sub-nanometrica e alto contrasto del materiale. Microscopio elettronico a scansione Verios 5 XHR Il SEM ...
Peso: 990 kg
Larghezza: 1.190 mm
Altezza: 1.800 mm
... Hitachi NP6800 è un sistema di tastatura dedicato al SEM progettato per soddisfare le esigenze analitiche dei dispositivi a semiconduttore con nodo di progettazione a 10 nm e oltre. L'attuatore piezoelettrico ...
... Il nanoEBAC Hitachi NE4000 è un sistema di ispezione a fascio di elettroni per la caratterizzazione elettrica, l'analisi EBAC e l'imaging di interconnessioni, materiali e componenti di dispositivi microelettronici. La tecnica EBAC (Electron ...
... installabili sui microscopi, e sono compatibili con una vasta gamma di microscopi e altri sistemi ottici Questa soluzione economica per la regolazione sottile al microscopio. È estremamente ...
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