Microscopio per topografia - Tutti i produttori del settore industriale

Consulta la nostra guida all’acquisto

{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}

{{#each product.specData:i}} {{name}}: {{value}} {{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}} {{/each}}

{{{product.idpText}}}

Confronta con altri prodotti Rimuovi

{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}

{{#each product.specData:i}} {{name}}: {{value}} {{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}} {{/each}}

{{{product.idpText}}}

Confronta con altri prodotti Rimuovi

microscopio SEMTM4000PlusIII

di misura per analisi per topografia

microscopio SEM

TM4000PlusIII

Ingrandimento: 10 unit - 250.000 unit

... Progettato come logica estensione della stereomicroscopia ottica, il TM4000 III è un dispositivo entry-level per la microscopia elettronica a scansione. Consente di acquisire immagini di campioni nel più breve tempo possibile, con una ...

Confronta con altri prodotti Rimuovi

microscopio SEM

di misura per analisi per topografia

microscopio SEM

... la documentazione della superficie di un componente per rivelare le irregolarità. Microscopio elettronico a scansione - SEM - Microfono - Utensili CNC Un microscopio elettronico a scansione (SEM) è ...

Confronta con altri prodotti Rimuovi

microscopio a forza atomica

da ricerca per ricerca sui materiali per l'industria elettronica

microscopio a forza atomica

Risoluzione spaziale: 0,02 µm

... Panoramica del prodotto
Il microscopio a forza atomica (AFM wafer-level) è uno strumento di sonda a scansione ad alta risoluzione progettato per caratterizzare la morfologia superficiale tridimensionale e le proprietà multifunzionali ...

Confronta con altri prodotti Rimuovi

Microscopi per topografia

{{product.productLabel}} {{product.model}}