Microscopi per topografia

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microscopio elettronico a scansione
microscopio elettronico a scansione
TM4000PlusIII

Ingrandimento: 10 unit - 250.000 unit
Peso: 55, 53 kg
Lunghezza: 614, 617 mm

... Progettato come logica estensione della stereomicroscopia ottica, il TM4000 III è un dispositivo entry-level per la microscopia elettronica a scansione. Consente di acquisire immagini di campioni nel più breve tempo possibile, con una ...

microscopio SEM
microscopio SEM

... la documentazione della superficie di un componente per rivelare le irregolarità. Microscopio elettronico a scansione - SEM - Microfono - Utensili CNC Un microscopio elettronico a scansione (SEM) è ...

microscopio a forza atomica
microscopio a forza atomica

Risoluzione spaziale: 0,02 µm

... Panoramica del prodotto
Il microscopio a forza atomica (AFM wafer-level) è uno strumento di sonda a scansione ad alta risoluzione progettato per caratterizzare la morfologia superficiale tridimensionale e le proprietà multifunzionali ...

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