Microscopio allo xeno - Tutti i produttori del settore industriale

Consulta la nostra guida all’acquisto

{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}

{{#each product.specData:i}} {{name}}: {{value}} {{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}} {{/each}}

{{{product.idpText}}}

Confronta con altri prodotti Rimuovi

{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}

{{#each product.specData:i}} {{name}}: {{value}} {{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}} {{/each}}

{{{product.idpText}}}

Confronta con altri prodotti Rimuovi

microscopio STEMHelios Hydra

per controllo di qualità per ricerca sui materiali 3D

microscopio STEM

Helios Hydra

Risoluzione spaziale: 2, 5, 1, 4, 20 µm

... ione-campione per ottimizzare i casi d'uso esistenti. Analisi SEM ad altissima risoluzione Combina l'innovativa colonna plasma-FIB multi-specie ionica con la colonna monocromatica Thermo Scientiﬁc Elstar UC+ SEM per ...

Confronta con altri prodotti Rimuovi

microscopio elettronico a scansione con sonda ionica focalizzataHelios 5 PFIB DualBeam

per ricerca sui materiali per semiconduttore per materiali

microscopio elettronico a scansione con sonda ionica focalizzata

Helios 5 PFIB DualBeam

Risoluzione spaziale: 1,2, 0,6, 1, 0,7 nm

... Microscopio elettronico a scansione a fascio di ioni focalizzato al plasma per la preparazione di campioni TEM, compresa la caratterizzazione 3D, il cross-sectioning e la microlavorazione. Il Thermo Scientific Helios 5 Plasma FIB (PFIB) ...

Confronta con altri prodotti Rimuovi

microscopio con sonda di scansioneScanning NV Microscope (SNVM)

da laboratorio medico per semiconduttore

microscopio con sonda di scansione

Scanning NV Microscope (SNVM)

... CIQTEK QDAFM Diamond III/IV è un microscopio con centro NV a scansione basato sul centro di azoto vacante del diamante (centro NV) e sulla tecnologia di imaging magnetico a scansione AFM. Le proprietà magnetiche del campione sono ottenute ...

Confronta con altri prodotti Rimuovi

Microscopi allo xeno

{{product.productLabel}} {{product.model}}

{{product.productLabel}} {{product.model}}

microscopio STEMHelios Hydra

microscopio elettronico a scansione con sonda ionica focalizzataHelios 5 PFIB DualBeam

microscopio con sonda di scansioneScanning NV Microscope (SNVM)

Microscopi allo xeno

Produttori

Tipo

Applicazioni tecniche

Obiettivi

Tecniche di osservazione

Sorgente luminosa

Sorgente di ioni

Tipi di rilevatori

Opzioni e accessori

Risoluzione spaziale

Altre caratteristiche

{{product.productLabel}} {{product.model}}

{{product.productLabel}} {{product.model}}

microscopio STEMHelios Hydra

microscopio elettronico a scansione con sonda ionica focalizzataHelios 5 PFIB DualBeam

microscopio con sonda di scansioneScanning NV Microscope (SNVM)