Sistema di misurazione di spessore MT-100 + Zoom70
otticovideodi pezzi

sistema di misurazione di spessore
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Caratteristiche

Grandezza fisica
di spessore
Tecnologia
ottico, video
Prodotto misurato
di pezzi, per PCB, per wafer
Altre caratteristiche
ad alta risoluzione, microscopio

Descrizione

MT-100-Z70: Tavolo di misura di dimensioni ridotte combinato con un'ottica zoom ad alta risoluzione La stazione di misura MT-100-Z70 combina il sistema ottico ad alta risoluzione e l'efficiente tecnologia di ripresa del microscopio video-zoom Z70 con il sistema modulare di tavoli di misura MT-100. Il dispositivo è ideale, oltre che per i test sui materiali e sui prodotti in produzione, per le misurazioni in direzione x, y e z su strati e strutture. Applicazioni: misurazione dell'altezza nel campo dei μm (spessore di strati e strutture, graffi) misurazione di parti piane (wafer e maschere) ispezione e misurazione di micro e macro strutture analisi dei materiali ed esami metallografici ispezioni di circuiti stampati (PCB) e sonde di rettifica dei metalli Vantaggi: il sistema ottico-meccanico-modulare ha permesso un adattamento flessibile del dispositivo di misura in base al compito da svolgere la luce coassiale e la luce anulare a LED forniscono un'illuminazione ottimale dell'oggetto il tavolo di misura MT-100 con sistema di misura lineare ha reso possibile il posizionamento di precisione e la massima accuratezza di misura il software JE.Mess/JE.Control offre ampie possibilità di archiviazione delle immagini, documentazione, editing delle immagini e numerose funzioni di misurazione Opzioni: impostazioni di messa a fuoco e zoom motorizzate la scelta dell'obiettivo determina l'intervallo di ingrandimento e la distanza operativa tavolo di misura con assi motorizzati dimensioni del campo di misura/tavolo di misura su richiesta del cliente unità di trasparenza diaframma a iride filtro di polarizzazione

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