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Sistemi di misurazione per wafer
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... monte della catena industriale dei semiconduttori, il sistema di misurazione confocale spettrale sviluppato in modo indipendente viene utilizzato per rilevare le dimensioni e la planarità dei wafer grezzi ...
... di manipolazione e misurazione dei wafer del sistema PWG5 per la geometria dei wafer modellati, per supportare le misurazioni dell'incollaggio da wafer ...
KLA Corporation
sistema di misurazione di dimensione criticaNEXIV VMZ-S
... Panoramica del prodotto
La serie NEXIV VMZ‑S di Nikon comprende
sistemi di
misurazione video per controlli dimensionali e di quota in applicazioni industriali. Disponibile in tre volumetrie (VMZ‑S3020, VMZ‑S4540, ...
Nikon Metrology
... market. Contattateci per qualsiasi misurazione di vibrazioni, acustica e dinamica, per il noleggio del sistema, per le misurazioni a contratto o per qualsiasi consulenza sul vostro specifico compito ...
... Il VX1100 è adatto alla misurazione dimensionale precisa nei settori dei macchinari, dell'elettronica, degli stampi, dello stampaggio a iniezione, della ferramenta, della gomma, degli apparecchi elettrici a bassa tensione, dei materiali ...
Chotest Technology Inc.
... La macchina di misura microscopica MX3200 consente di misurare un'ampia gamma di caratteristiche minime combinando l'imaging microscopico con la misurazione video tradizionale. Dotata di una torretta ...
Chotest Technology Inc.
... e inferiore del wafer viene ricostruita mediante misurazione senza contatto. Il potente software di misurazione e analisi garantisce un calcolo stabile dello spessore, della rugosità e della variazione ...
Chotest Technology Inc.
... della qualità dei wafer, KoCoS Optical Measurement ha sviluppato WATOM, uno strumento per la misurazione dei bordi dei wafer e dei profili delle tacche che inaugura una nuova era di misurazione ...
... soluzione ideale per le esigenze di misurazione del profilo meno impegnative, in particolare quando non è richiesta la misurazione della tacca. Una telecamera CMOS acquisisce l'immagine del profilo del ...
... precisione di misura degli altri sistemi WATOM. WATOM T è progettato per accettare due dimensioni di wafer per una rapida misurazione dei campioni. Dotato di un touch screen, questo strumento è facile ...
... di wafer vengono rilevate in modo rapido e globale. La misurazione senza contatto evita di danneggiare il wafer con la caratterizzazione magnetica tradizionale e può essere applicata al rilevamento dei ...
... 3DGipsumB. Il sistema per la misurazione dimensionale dei pannelli di gesso Soluzione chiavi in mano sulla base di scanner laser 2D e sensori di triangolazione dei punti per la misurazione continua senza ...
... Discrezionalità dell'indicazione, mm: 0,01 Risoluzione spaziale, punti/turnover: 700 Profondità di misurazione dall'estremità del tubo, mm: 155...307 Tempo di misurazione, non superiore, s: 2 Parametri misurati: diametro ...
... strati. La misurazione dell'errore di sovrapposizione è un processo di imaging che calcola la deviazione su due diversi segni di sovrapposizione, per lo più generati da processi diversi e composti da materiali diversi. Per la misurazione ...
TZTEK Technology Co.,ltd
... Sistema di misura video automatico della serie G Misurazione automatica dei lotti, per liberare le mani La serie G è ideale per un'ampia gamma di applicazioni di ispezione industriale che richiedono misure sia visive ...
Guangdong Jinuosh Technology Co.,Ltd
... per le misurazioni in direzione x, y e z su strati e strutture. Applicazioni: misurazione dell'altezza nel campo dei μm (spessore di strati e strutture, graffi) misurazione di parti piane ( wafer ...
... Automatico-obiettivo di CNC Metrology del professionista soddisfa le varie misure di formati. Caratteristiche del sistema di misurazione di visione di CNC del Multi-sensor: 1. La base del supervisore della tabella ...
Leader Precision Instrument Co. Ltd
... Il nuovo sistema avanzato di sonde Cascade SUMMIT200 da 200 mm è essenziale per raccogliere dati di misura di alta precisione su wafer singoli o in volume, nel modo più rapido possibile. Progettata per la ricerca e lo ...
FORMFACTOR
... Y valore della barra di cristallo dopo la misura di orientamento, e può misurare con precisione il valore dell'angolo del wafer parziale. Struttura: Lo strumento di orientamento a cristallo del silicio YX-6D del singolo strumento di ...
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