Sistema di misurazione per wafer SUMMIT200

per semiconduttoreper taraturacompletamente automatico

Il nuovo sistema avanzato di sonde Cascade SUMMIT200 da 200 mm è essenziale per raccogliere dati di misura di alta precisione su wafer singoli o in volume, nel modo più rapido possibile. Progettata per la ricerca e lo sviluppo, la caratterizzazione/modellazione di dispositivi o per applicazioni di produzione di nicchia, la stazione di sonda SUMMIT200 consente di eseguire misure elettriche di precisione sulla temperatura per applicazioni a bassissimo rumore, CC, RF, mmW e THz, con funzionamento semiautomatico e ora completamente automatico, per ottenere dati accurati in tempi brevissimi. Il sistema di sonde di nuova generazione supporta la tecnologia PureLine™ per ottenere uno dei livelli di rumore più bassi disponibili sul mercato. Le tecnologie brevettate AttoGuard® e MicroChamber® migliorano significativamente le misure a bassa perdita e a bassa capacità. Il nuovo stadio rapido avanzato da 200 mm, la cassetta che gestisce fino a 50 wafer, le funzioni di test ad alta produttività e l'ampio intervallo di temperatura da -60°C a 300°C offrono tutto ciò che serve allo scienziato, all'ingegnere di ricerca e sviluppo e al collaudatore o all'operatore di produzione per svolgere rapidamente il proprio lavoro. La stazione di sonda SUMMIT200 supporta Contact Intelligence™, una tecnologia unica che consente di eseguire test autonomi sui semiconduttori. Una potente combinazione di design innovativo del sistema e di elaborazione delle immagini all'avanguardia fornisce una soluzione indipendente dall'operatore per ottenere dati di misura altamente affidabili in qualsiasi momento e a qualsiasi temperatura. Con un'ampia gamma di applicazioni e percorsi di aggiornamento per soddisfare qualsiasi esigenza futura, SUMMIT200 rappresenta la più avanzata piattaforma di stazioni di misura da 200 mm per misure rapide, di alta precisione e in grandi volumi per dispositivi e circuiti integrati esistenti e futuri.