Sistema di misurazione ottico CM300xi-SiPh

per waferper taraturacompletamente automatico

stazione di ispezione da 300 mm con soluzione integrata di ispezione a livello di wafer e die per la fotonica del silicio La stazione di misura CM300xi-SiPh da 300 mm è la prima soluzione di misura integrata e verificata sul mercato che consente di eseguire misure ottiche ottimizzate e collaudate subito dopo l'installazione, senza ulteriori sviluppi. Questo esclusivo assistente di misura autonomo SiPh fornisce una serie di funzioni innovative che calibrano con precisione l'hardware di posizionamento ottico sulla stazione di misura e verificano le prestazioni del sistema integrato. In combinazione con il rivoluzionario OptoVue per calibrazioni avanzate, algoritmi intelligenti di visione artificiale e l'esclusivo SiPh TopHat per ambienti bui, schermati e privi di gelo, il sistema consente una vera calibrazione e ricalibrazione autonoma a mani libere a diverse temperature. Ciò consente di accelerare i tempi per ottenere misure più accurate e ridurre i costi dei test. SiPh-Tools e Photonics Controller Interface (PCI), sviluppati in esclusiva da FormFactor, forniscono potenti strumenti software per gli allineamenti, la raccolta e l'analisi dei dati. Questi includono tutti gli algoritmi necessari per l'utilizzo di fibre e array di fibre con applicazioni di accoppiamento di superficie e di bordo.