Sistema di misurazione per wafer EPS200MMW

microscopio

Una soluzione completa per misure mmW, THz e load-pull a 67 GHz e oltre. Soluzione su misura che risponde alle esigenze di misura di componenti attivi e passivi nella gamma di frequenze del terahertz. Consente di ottenere la massima gamma dinamica e direttività, senza compromettere la precisione elettrica o la stabilità meccanica. L'EPS200MMW è una soluzione di tastatura dedicata, dotata di tutto ciò che serve per ottenere risultati di misura accurati, incorporando i metodi e i concetti di progettazione più noti per la tastatura fino alle frequenze THz. Grazie a un solido telaio in fusione e a una piastra con supporto a quattro punti, l'EPS200MMW offre un'eccellente stabilità, facilitando il raggiungimento di un'elevata precisione. La base in granito lucidato elimina qualsiasi influenza termica o meccanica, garantendo un'eccellente planarità e stabilità del sistema. Le esclusive opzioni SIGMA™ integrano perfettamente le teste mmW e i sintonizzatori load pull dei principali fornitori di strumenti di misura, consentendo di ottenere la massima gamma dinamica e direttività senza compromettere la precisione elettrica e la stabilità meccanica. Il microscopio SlimVue™ attenua le interferenze meccaniche per le ottiche ad alto ingrandimento necessarie per il sondaggio di piccole superfici