Sistema di misurazione per wafer CM300xi-ULN

stazione sonda da 300 mm per misure di rumore di sfarfallamento (1/f), rumore di segnale telegrafico casuale (RTN o RTS) e rumore di fase di dispositivi ultrasensibili FormFactor ha migliorato la sua stazione di sonda CM300xi, leader del settore, con tecnologie rivoluzionarie per soddisfare le nuove capacità di test nei nodi tecnologici a 5, 3 e 2 nm, mirate alle applicazioni 5G e oltre. La nuova CM300xi-ULN consente ora di ottenere prestazioni di misura senza precedenti e di raggiungere quattro importanti primati nel settore dei test on-wafer, del flicker a bassa frequenza, della RTN e del rumore di fase: Tecnologia PureLine 3 Prima stazione di misura automatizzata a raggiungere un rumore spettrale di -190 dB* Plug in e via La gestione dell'alimentazione TestCell integrata fornisce un'alimentazione CA completamente gestita e filtrata all'intero sistema, al prober e agli strumenti Funzionamento autonomo 24/7 Test termici con rumore di sfarfallio fino a 4 volte più veloci su pad da 30 μm Riduzione dei tempi e dei costi di installazione Esclusivi servizi di rilevamento del sito a bassa rumorosità e di verifica del sistema