Sistema di misurazione di temperatura CM300xi

per waferper taraturamicroscopio

Prestazioni di misura di prim'ordine con un elevato livello di automazione in laboratorio* La stazione di misura CM300xi risponde alle sfide di misura poste da ambienti estremamente complessi, come i test non presidiati su piccoli pad nel tempo e a diverse temperature. Le migliori prestazioni di misura della categoria sono ottenute per un'ampia gamma di applicazioni in un ambiente di prova schermato dalle EMI, impermeabile alla luce e privo di umidità. I miglioramenti della gestione termica e le funzionalità di automazione del laboratorio consentono di migliorare i rendimenti e di accelerare i tempi di acquisizione dei dati. Il CM300xi supporta la Contact Intelligence™, una tecnologia unica che consente il test autonomo dei semiconduttori. Una potente combinazione di design innovativo del sistema e di elaborazione delle immagini all'avanguardia fornisce una soluzione indipendente dall'operatore per ottenere dati di misura altamente affidabili in qualsiasi momento e a qualsiasi temperatura. Con l'unità di movimentazione dei materiali, la stazione di sonda CM300xi combina il test completamente automatizzato dei wafer con la massima precisione e flessibilità. Il sistema è in grado di gestire fino a cinquanta wafer da 200 o 300 mm forniti in cassette per wafer conformi agli standard SEMI.