Sistema di misurazione per wafer EPS200RF

per taraturamicroscopio

[prisna-wp-translate-show-hide behavior="hide[/prisna-wp-translate-show-hide]Un pacchetto completo di misure RF L'EPS200RF, focalizzato sulle applicazioni, è una soluzione completa per le migliori misure RF della categoria fino a 67 GHz. Basato sulla piattaforma di sistema PM8, il pacchetto EPS200RF comprende tutto l'hardware, il software e gli accessori necessari per sondare con sicurezza dispositivi RF con pad di dimensioni pari a 25 µm x 35 µm. L'EPS200RF è una soluzione di tastatura avanzata e dedicata, dotata di tutto ciò che serve per ottenere risultati di misura accurati nel più breve tempo possibile, con la massima sicurezza. Il sistema incorpora i metodi più noti per il sondaggio RF fino a 67 GHz, con la possibilità di sondare pad di dimensioni pari a 25 μm x 35 μm e oltre. Il design del sistema EPS200RF, molto rigido e stabile, con telaio in fusione e piastra singola con supporto a quattro punti, consente di ottenere un'elevata precisione. Una soluzione integrata di isolamento dalle vibrazioni protegge la qualità del contatto per tutto il tempo della misura. L'ottica ottimizzata, il movimento X-Y-Z senza gioco dei posizionatori RF e l'azionamento della separazione dei contatti con un'eccezionale ripetibilità di 1 μm consentono un posizionamento preciso della sonda e una ripetibilità dei contatti paragonabile a quella dei sistemi semiautomatici. I cavi di riferimento del settore supportano la massima stabilità di magnitudo e fase delle misure. Scegliete una coppia di sonde RF da 40, 50 o 67 GHz delle nostre famiglie di sonde Infinity Probe®, |Z| Probe®, ACP e FPC per ottenere le migliori prestazioni di contatto. Con il software WinCal XE™, riceverete i metodi brevettati LRRM e LRM+ per la migliore precisione di calibrazione