Le opzioni metrologiche aggiuntive del CIMS sono progettate per potenziare ulteriormente le capacità di ispezione dei dispositivi a semiconduttori. Tali opzioni possono essere integrate con le apparecchiature CIMS, offrendo ai nostri clienti un ulteriore livello di garanzia della qualità.
Le opzioni aggiuntive CIMS includono esclusive funzionalità di metrologia 2D e 3D che consentono di eseguire misurazioni avanzate durante il normale ciclo di ispezione. Ciò elimina la necessità di sistemi di metrologia dedicati offline e accorcia il ciclo di feedback del controllo qualità.
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