Apparecchiatura di controllo per semiconduttori
qualità

Apparecchiatura di controllo per semiconduttori - CIMS - qualità
Apparecchiatura di controllo per semiconduttori - CIMS - qualità
Aggiungi ai preferiti
Confronta con altri prodotti

Caratteristiche

Applicazioni
per semiconduttori
Specificazioni
qualità

Descrizione

Le opzioni metrologiche aggiuntive del CIMS sono progettate per potenziare ulteriormente le capacità di ispezione dei dispositivi a semiconduttori. Tali opzioni possono essere integrate con le apparecchiature CIMS, offrendo ai nostri clienti un ulteriore livello di garanzia della qualità. Le opzioni aggiuntive CIMS includono esclusive funzionalità di metrologia 2D e 3D che consentono di eseguire misurazioni avanzate durante il normale ciclo di ispezione. Ciò elimina la necessità di sistemi di metrologia dedicati offline e accorcia il ciclo di feedback del controllo qualità.

---

Altri prodotti CIMS

Semiconductors Inspection and Metrology

* I prezzi non includono tasse, spese di consegna, dazi doganali, né eventuali costi d'installazione o di attivazione. I prezzi vengono proposti a titolo indicativo e possono subire modifiche in base al Paese, al prezzo stesso delle materie prime e al tasso di cambio.
Su DirectIndustry
DirectIndustry è un marketplace che offre agli operatori B2B un'esperienza completa, dal sourcing del prodotto all'acquisto. DirectIndustry è un'entità di VirtualExpo Group.