Sistema di test di prestazione HATINA GP

per automotiveper l'industria elettronicaper circuiti integrati

Presentazione del prodotto
HATINA GP è una piattaforma ATE (sistema di test automatizzato) progettata per la caratterizzazione e i test di produzione ad alto parallelismo di Smart Power IC e SoC. Il sistema dispone di un mainframe modulare configurabile fino a 10 slot, che integra sorgenti analogiche/potenza, canali digitali e strumenti di misura avanzati in una piattaforma compatta e a basso consumo. Il controllo avviene tramite interfaccia grafica; il software Kronos consente la generazione automatica dei programmi di test per accelerare sviluppo e messa in produzione.

Capacità principali
HATINA GP supporta un mix flessibile di strumenti per slot: canali digitali ad alta velocità, alimentatori DC ad alta corrente e unità di misura di precisione. Il mainframe modulare semplifica la scalabilità e la manutenzione. Le risorse per slot includono I/O digitali ad alta velocità, PPMU e carichi attivi, moduli DCS ad alta corrente, AWG, digitalizzatore e misuratori differenziali. Il sistema è adatto a test sia a livello wafer sia su dispositivi incapsulati.

Motivi per la scelta

• Multiplexer integrato che riduce la complessità della load board
• Efficienza di test in parallelo >99% per minimizzare il costo del test (COT)
• Strumentazione modulare che si adatta alle esigenze di mercato e tecnologiche
• Ingombro contenuto e consumo ridotto per ottimizzare i costi operativi
• Generazione automatica dei programmi di test con Kronos per ridurre i tempi di sviluppo

Panoramica / Casi d'uso
Progettato per test ad alto parallelismo di ASIC, PMIC, Smart Power IC/SoC nei settori automotive, industriale e di gestione energetica. Supporta test wafer-level e su dispositivi incapsulati; semplifica la progettazione della load board e si integra nelle linee di produzione automatizzate. Risorse tipiche per slot: canali digitali (fino a 256 CH per slot; alcune schede supportano velocità superiori), sorgenti DC ad alta corrente, moduli di misura di precisione, AWG e digitalizzatore.

Riepilogo specifiche

• Famiglia modello: HATINA GP (ATE general-purpose)
• Mainframe: modulare, fino a 10 slot
• Dimensioni (D×W×H): 640 mm × 670 mm × 700 mm
• DCS HP: 16 canali, ±80 V / ±10 A, floating
• DCS LP: 160 canali, -80 V / +110 V @ ±200 mA
• DCS MP: 80 canali, -80 V / +110 V @ ±4 A
• Digital: fino a 256 canali digitali per slot; 256 CH per scheda; PPMU; carico attivo
• Memoria pattern: 64M per pin (fino a 128M)
• Profondità memoria: 64M vettori DSIO / HRAM per pin
• AWG: 16 canali, 400 MSPS
• Digitalizzatore / TMS: 16 canali, 80 MSPS
• Voltmetro differenziale: 16 canali
• Canali digitali per slot: dipende dalla scheda (riferito fino a 800 MHz nella documentazione dettagliata)
• Software: toolset Kronos per generazione automatica dei programmi di test