Sistema di test per l'industria elettronica DMT EVO

per ricerca e sviluppoda laboratorioper circuiti integrati analogici

Presentazione
DMT EVO è un ATE compatto per segnali misti e digitali, progettato per la caratterizzazione e la validazione di IC in R&D, laboratorio, pre‑produzione e post‑produzione. Il mainframe modulare supporta fino a 5 slot per combinare sorgenti di potenza, moduli digitali, AWG/digitizer e unità di misura in una piattaforma scalabile. Il controllo avviene tramite un'interfaccia grafica intuitiva e la suite Kronos genera automaticamente programmi di test ottimizzati.

Vantaggi principali

• Ingombro estremamente ridotto con elevata densità di risorse per ambiente di laboratorio e pre‑produzione.
• Generatore automatico Kronos per ridurre i tempi di sviluppo dei test.
• Strumenti di debug integrati, incluso oscilloscopio per analisi e troubleshooting.
• Combinazioni modulari flessibili — configurabile fino a 5 slot.
• Progettato per la caratterizzazione di dispositivi analogici e mixed‑signal lungo l'intero ciclo di vita del prodotto.

Caratteristiche salienti

• Architettura mainframe modulare (fino a 5 slot) per integrazione scalabile degli strumenti.
• Alta integrazione hardware che offre risorse estese in un ingombro contenuto.
• Software Kronos che converte descrizioni di test in codice test ottimizzato.
• Interfaccia grafica rivolta a progettisti e test engineer; limitato bisogno di programmazione.
• Adatto a validazione in laboratorio, R&D, pre‑produzione e test finali di dispositivi confezionati.

Capacità strumenti inclusi (per slot e sistema)

• Sorgenti DC (DCS): famiglie HP, MP e LP per diversi range di potenza.
• I/O digitali: canali digitali ad alta densità con memoria pattern e supporto DSIO.
• Misure temporali, misurazione differenziale, AWG e digitizer per acquisizioni analogiche e tempistiche precise.
• Picoammeter per misure di corrente molto basse con alta risoluzione.

Specifiche tecniche

• Denominazione modello: DMT EVO
• Architettura sistema: mainframe modulare, fino a 5 slot (configurabile)
• Dimensioni (D × W × H): 500 mm × 350 mm × 230 mm
• DCS HP: 8 canali, ±80 V / ±10 A (floating)
• DCS MP: 40 canali, -80 V / +110 V @ ±4 A
• DCS LP: 80 canali, -80 V / +110 V @ ±200 mA
• Canali digitali: fino a 256 canali digitali per slot (200/400 MHz)
• PPMU digitale: 256 PPMU per scheda
• Range elettrico I/O digitali: −1.25 V a 6.75 V; 50 mA drive; carico attivo ±12 mA
• Memoria pattern / DSIO: 64 M pattern e 32 M DSIO (per risorsa rilevante)
• AWG / Digitizer / TMS / Meter differenziale: 8 canali AWG 400 MSPS; 8 canali digitizer 80 MSPS (TMS); 8 meter differenziali
• Densità AWG & digitizer: fino a 16 AWG/digitizer per slot (dipende dalla configurazione)
• Misura temporale & metrologia differenziale: supporto fino a 32 mux4
• Picoammeter: intervallo 2 nA a 2 µA (precisione fino a ±20 pA)
• Software: interfaccia grafica; Kronos generatore automatico di programmi di test incluso
• Casi d'uso tipici: caratterizzazione IC, sviluppo test mixed‑signal, R&D, laboratorio e pre‑produzione