Probe card ViProbe® II

FEINMETALL ViProbe® II è la nuova generazione di ViProbe®. ViProbe® II non solo include tutti i vantaggi di ViProbe®, ma offre anche una durata di vita del prodotto significativamente maggiore e caratteristiche di sicurezza aggiuntive per proteggere in modo ottimale il wafer durante il test. Durata del prodotto 4 volte più lunga, rispetto alle tecnologie di contatto verticale concorrenti Intervallo di temperatura -da 55°C a 200°C Manutenzione La migliore manutenibilità disponibile sul mercato Vantaggi: beneficiate di Maggiore durata del prodotto Migliorate il vostro TCOO con lo spessoramento: La funzione brevettata da FEINMETALL per la massima durata del prodotto. Test sicuri sui wafer Sicurezza sempre al centro dell'attenzione. Le nuove caratteristiche di sicurezza di ViProbe® II garantiscono un test sicuro e permanente senza danni al wafer. Comportamento eccezionale alla temperatura ViProbe® II si basa sull'esperienza del ViProbe® già progettato per le alte temperature e offre caratteristiche di test eccellenti in un'ampia gamma di intervalli di temperatura grazie a un design ottimizzato. Manutenzione e assistenza semplici L'innovativo processo di "Free Beam Placement", in combinazione con la sezione trasversale circolare della trave, offre la migliore manutenibilità disponibile sul mercato, riducendo così al minimo i tempi di fermo.