Substrati di calibrazione per onde millimetriche e submillimetriche, ottimizzati per le sonde T-Wave™. I substrati di calibrazione TRL multilinea offrono standard CPW tra cui reflect (corto), thru e due linee e sono consigliati per l'uso con il software di calibrazione WinCal XE™. Per ulteriori misurazioni sono incluse alcune strutture aperte e corte disassate.
- Materiale del substrato: Silicio ad alta resistività
- Spessore del substrato: 275 µm
- Costante dielettrica: 11,8
- Z0 nominale: 50 Ω
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