Sensore ottico di luce bianca cromatica (CWL) HP-OW

per macchina di misura tridimensionale

Scansione flessibile a luce bianca per molteplici finiture superficiali Il sensore HP-OW utilizza la spettroscopia cromatica a luce bianca per effettuare misure molto accurate su diverse finiture superficiali in un'ampia gamma di applicazioni. Il sensore ha una corsa di misura di diversi millimetri e risoluzione nella gamma nanometrica. In combinazione con un ampio angolo di accettazione fino a ±30°, offre possibilità di misura molto versatili, adattandosi perfettamente a qualsiasi oggetto, dai piccoli pezzi alle grandi superfici. I sensori HP-OW sono disponibili in tre varianti e ciò li rende adatti a diverse corse di misura, distanze operative e altri requisiti di misura. Se abbinato al rack di sensori HR-R, il tempo del ciclo di verifica si riduce notevolmente.