Sistema di misurazione di birifrangenza Exicor® PV-Si

infrarossorinforzato

Durante la produzione di pannelli solari in Si, le tensioni nei cristalli di Si spesso rimangono inosservate per molto tempo durante il processo di fabbricazione. Hinds Instruments ha sviluppato uno strumento di birifrangenza da stress per misurare i lingotti di Si, squadrati o cresciuti, prima che vengano segati in wafer. Utilizzando questo strumento come strumento di controllo qualità, è possibile identificare lingotti o segmenti di Si di bassa qualità prima che vengano sostenuti costi di lavorazione successivi. Inoltre, questo strumento fornisce ai coltivatori di cristalli di Si uno strumento con cui migliorare la qualità dei lingotti di Si, in modo da poter produrre wafer più sottili con una bassa perdita di rendimento meccanico. Il sistema di misura della birifrangenza nel vicino infrarosso Exicor® 500 Si Ingot di Hinds Instruments è un'estensione della piattaforma di lavoro della famiglia di sistemi di misura della birifrangenza Exicor. Questo sistema impiega modulatori fotoelastici simmetrici di alta qualità, un laser a 1550 nm e un rivelatore a fotodiodi a valanga Ge per consentire misure di birifrangenza di alta precisione per i materiali Si utilizzati sia nell'industria fotovoltaica che in quella dei semiconduttori. Oltre al Si, con questo sistema si possono misurare anche materiali come zaffiro, carburo di silicio, seleniuro di zinco e solfuro di cadmio. Il modello 500 Si Ingot è robusto e versatile, costruito per contenere e misurare un lingotto grezzo di 500 mm di lunghezza fino a un diametro di 8 pollici. Il design del sistema e l'intuitivo software di scansione automatica rendono questo prodotto la scelta migliore per il miglioramento dei materiali, le attività di ricerca e sviluppo e la valutazione quotidiana dei lingotti di Si grezzi e di altri materiali ad alta tecnologia. Caratteristiche: Sensibilità senza precedenti nella misura della birifrangenza di basso livello Misura simultanea della grandezza e dell'angolo di birifrangenza Ripetibilità di precisione